LT-AC/DC 台式霍尔效应测量系统

LT-AC/DC 台式霍尔效应测量系统是一个集成的硬件和软件系统,旨在测量和分析样品的电子特性。

LT-AC/DC 台式霍尔效应测量系统

 

霍尔效应测量系统 (HEMS)

 

HEMS 是一个集成的硬件和软件系统,旨在测量和分析样品的电子特性。

该系统设计提供了在高达 2.5 特斯拉的磁场下进行测量的可能性,结合低温恒温器,磁场高达 16T.

同时,该系统提供了使用 2 个不同温度测量头进行 3K-1273K 范围内测量的机会,同时它提供了与探头系统相关的样品的轻松组装,可以在 3 个不同的轴上移动。

NMI – 霍尔效应测量系统 (HEMS) 设备对半导体、有机导体和金属氧化物材料进行电气表征。这些用纳米技术方法开发的材料用于芯片技术的发展、太阳能电池的发展、材料科学的发展、空间技术、国防工业的发展。

 

适用对象

 

适用于基于 GaAS 的材料(高电子迁移率晶体管、伪高电子迁移率晶体管、异质结双极晶体管、场效应晶体管、金属半导体场效应晶体管)、磷化铟、砷化铟、氮化镓、氮化铝、硅、锗、碲镉汞、氧化锌、硅锗、锰砷化镓、氧化锌、红外应用(发光二极管、激光二极管、探测器)、金属氧化物、有机和无机导体、铁氧体等。

 

测量内容包括

 

  • 迁移率测量

  • 载流子测量

  • 电阻率测量

  • 范德堡测量

  • 霍尔 bar 测量

 

极帽

 

  • 可调节极帽

  • 25mm 端面直径

  • 极间距可在 0 – 130mm 连续调节

  • 可选更大直径,50mm、75mm

 

电磁铁

 

  • 25mm 极面、10mm 间距时,±2.5T(可配置)

  • ±35V,±70A 线圈

  • 25mm 极间距时,磁场>±1T

  • 大极间距下磁场强度高

  • 适用于 3 – 300K 闭循环低温恒温器集成

  • 串联线圈电阻:0.5Ω(20℃)

  • 水冷

 

制冷机

 

  • 闭循环水冷

  • 超温时与线圈互锁

 

NanoMagnetics 高斯计

 

  • 利用集成高斯计进行磁场控制扫描

  • 用霍尔探头校准磁场

  • 高灵敏度磁场测量

  • 软件控制所有参数

 

样品架:

弹簧加载设计选项:

 

  • 范德堡测量设计

  • 四、六或八接触霍尔 bar 测量设计

  • 用弹簧针连接,便于样品安装

  • 标准 5mm×5mm 样品尺寸(可选更大尺寸)

  • 多样品安装

 

样品焊接 / 键合设计选项:

 

  • 范德堡测量设计

  • 四或六接触霍尔 bar 测量设计

  • 八接触霍尔 bar 测量设计(可选)

  • 5mm×5mm 样品尺寸(可选更大尺寸)

  • 多样品(2 个)安装

 

控制器与软件

 

  • 是德科技(Keithley Instruments)pA/μV 灵敏度的*数字源表

  • 用强大软件进行层迁移率分析

  • 基于 Labview 的全自动软件

  • 带 USB / 以太网接口的磁铁与系统控制

  • 3 – 1300K 变温控制选项,用于低温 – 高温测量

  • 用高斯计进行磁场控制测量

  • 范德堡和霍尔 bar 测量的可视化便捷设置

  • 软件免费更新

 

交流霍尔效应测量系统(可选)

 

  • 频率:0.1 赫兹

  • 最大磁感应强度:0.65 特斯拉

  • 迁移率:10⁻³ 平方厘米每伏秒

  • 低温分辨率:±0.2 开尔文

  • 高温分辨率:±1 开尔文

 

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