Filmetrics® Profilm3D® 光学轮廓仪
Filmetrics Profilm3D和Filmetrics Profilm3D-200白光干涉仪能够高分辨率地测量亚纳米级分辨率的表面形貌。这些机台支持垂直扫描和相移干涉测量法。Profilm3D采用TotalFocus™ 技术,可以产生令人惊叹的3D自然彩色图像,每个像素都处于聚焦状态。最新一代的Profilm3D引入了加强版粗糙度成像技术,可用于测量更粗糙的表面、更高的斜率以及更低的反射率表面。
在Profilm3D测量技术中,测量的垂直分辨率不依赖于物镜的数值孔径,能够同时以大视场进行高分辨率的测量。通过将多个视场拼接到单次测量中,可以进一步增大测量区域。Profilm3D还具有简单、创新的用户界面和自动化功能,支持从研发到生产的各种工作环境。
我们的Profilm® 软件包采用先进的基于云的ProfilmOnline® 网络服务、Android和 OS的移动应用程序以及高级Profilm桌面软件,可提供灵活的数据存储、可视化功能以及分析解决方案。