| 实物图 | 中文名称 | 说明 | |
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探针 （适用于Model 656 和 Model 659） |
探针：220、248、254、260、310、365、380、400、420、436、540 纳米 |
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Model 656 紫外线光强与能量计 |
该设备可用于半导体、微机电系统（MEMS）、晶圆封装和晶圆凸点制造等行业光刻工艺可靠、精准校准控制的紫外光强与能量测量仪器领域。新型 656 型是一款专业的紫外曝光分析仪，专为接触式 / 近接式掩模对准器和泛光曝光系统设计。可存储多达 400 组曝光读数，配备以太网和 USB 接口用于下载已记录的测量数据，光强量程最高可达 7500 毫瓦每平方厘米。探头可选波长为 365 纳米、400 纳米、420 纳米和 436 纳米 。 |
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Model 659 紫外光强与能量计 |
该仪器能为半导体、微机电系统（MEMS）、晶圆封装及晶圆凸点制作行业的光刻工艺，提供可靠、精准且经校准的控制。659 型是一款专业的紫外线曝光分析仪，专为适配各类晶圆步进光刻机（包括高强度晶圆步进光刻机 ）而设计。可存储多达 400 组曝光读数，配备以太网和 USB 接口用于下载已记录的测量数据，光强量程最高可达 7500 毫瓦每平方厘米。探头可选波长为 365 纳米、400 纳米、420 纳米和 436 纳米 。 |
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Model 308 紫外光度计 |
Model 308 紫外线光度计由OAI设计与制造 OAI 308型紫外线光度计是一款可靠的精密仪器，用于测量紫外线强度。308型适用于多种行业和应用场景，专为任何需要精确、可靠紫外线测量的场合而设计。该308型是一款手持式紫外线强度计，配备可拆卸探头，可用于UVA、UVB和UVC波段的测量。此外，还可选择配备高速串行端口，用于数据记录。 |
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