F10-RT薄膜厚度测量仪

薄膜厚度测量仪

同时测量反射和透射

以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行最低/最高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。

 

 

可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。

获得精确的测量

集成光谱仪/光源装置

FILMeasure 8 软件

BK7 参考材料

Si 参考材料

防反光板

镜头纸

 

型号规格

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